產(chǎn)品分類(lèi)

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      類(lèi)型分類(lèi):
      科普知識(shí)
      數(shù)據(jù)分類(lèi):
      測(cè)試系統(tǒng)

      全功能型太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)SCS100

      發(fā)布日期:2022-10-09 點(diǎn)擊率:45

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      SCS100全功能型太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)功能

      適用電池:全系列太陽(yáng)能電池

      光譜范圍:300-1100nm,可擴(kuò)展至1700nm

      可測(cè)量參數(shù):光譜響應(yīng)度、外量子效率、光子電子轉(zhuǎn)換效率、內(nèi)量子效率、反射率、透射率、積分短路電流密度、光束誘導(dǎo)電流、量子效率制圖、反射率制圖、光束誘導(dǎo)電流制圖

      可測(cè)樣品尺寸:156mmX156mm

      可測(cè)樣品模式:交、直流測(cè)試法、交、直流偏置光測(cè)試法

      SCS100全功能型太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn)

      1.全光譜太陽(yáng)光模擬,雙光源切換可選,高光強(qiáng)穩(wěn)定性

      系統(tǒng)采用符合最新IEC60904標(biāo)準(zhǔn)的雙光源配置,采用氙燈和溴鎢燈來(lái)覆蓋太陽(yáng)光譜的整個(gè)范圍。無(wú)論是氙燈還是溴鎢燈,都可以提供超高的光強(qiáng)穩(wěn)定性,從而保證系統(tǒng)測(cè)試結(jié)果的高重復(fù)性。當(dāng)不同的波段光譜測(cè)量時(shí),選擇合適的光源波長(zhǎng)與相匹配的標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器,可以最大限度的優(yōu)化太陽(yáng)能電池量子效率的測(cè)試結(jié)果。

      2.高重復(fù)性測(cè)試結(jié)果

      系統(tǒng)從光源的穩(wěn)定性、單色儀的波長(zhǎng)準(zhǔn)確性與重復(fù)性、特有的光路設(shè)計(jì)、樣品的加持、數(shù)據(jù)的采集方式上確保測(cè)試結(jié)果的高重復(fù)性。

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      5次每次間隔1小時(shí)的測(cè)試結(jié)果與全波段重復(fù)性測(cè)試

      3.窗口化軟件設(shè)計(jì)

      在系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)中,將實(shí)用的儀器控制部分匯總到一個(gè)界面,將實(shí)用的儀器參數(shù)設(shè)置部分匯總到另一個(gè)界面,從而最大限度的將控制操作簡(jiǎn)化,實(shí)現(xiàn)一鍵運(yùn)行。

      儀器參數(shù)設(shè)置可以按照不同樣品的測(cè)試需求保存為獨(dú)立的配置文件并導(dǎo)出,從而實(shí)現(xiàn)快速還原與測(cè)試的功能,隨時(shí)調(diào)出原有保留的參數(shù)設(shè)置。同樣配置的不同系統(tǒng)之間也可以統(tǒng)一相互調(diào)用。

      系統(tǒng)軟件可以準(zhǔn)確得到理論積分電流密度值,并按照需求保存原始數(shù)據(jù),支持ASCII、Excel、XML等多種格式數(shù)據(jù)導(dǎo)出。以便使用主流數(shù)據(jù)處理軟件調(diào)用,方便后續(xù)數(shù)據(jù)處理與分析。

      4.快速M(fèi)apping功能

      快速M(fèi)apping功能包括:

      1)量子效率Mapping功能

      2)反射率Mapping功能

      3)光束誘導(dǎo)電流(LBIC)功能

      該功能針對(duì)100mmX100mm以上的較大面積的成品太陽(yáng)能電池片,用戶(hù)可以從Mapping功能獲得的數(shù)據(jù)中得到關(guān)于電池片的少子擴(kuò)散情況、電池片缺陷分布等信息。

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      上圖顯示6寸單晶硅電池IQE mapping,樣品右上角IQE數(shù)值明顯低于其他區(qū)域,因?yàn)槟抢镉腥庋蹮o(wú)法直接觀察到的缺陷。

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      上圖顯示單晶硅電池的反射率mapping,均勻度明顯不好,這顯示出酸洗過(guò)程中酸液有殘留,影響了整個(gè)電池的反射率均勻性。

      全功能型太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)SCS100

      上述Mapping數(shù)據(jù)是在同一個(gè)電池片上用400nm、650nm和950nm三個(gè)波長(zhǎng)做QE(LBIC)掃描得到的。650nm和950nm的掃描數(shù)據(jù)顯示電池具有良好的均勻性,但400nm掃描數(shù)據(jù)上,我們發(fā)現(xiàn)電池邊緣有不均勻區(qū)域。

      太陽(yáng)電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)量全系列太陽(yáng)能電池,主要包含如下:晶體硅太陽(yáng)電池測(cè)試、非晶硅薄膜太陽(yáng)電池測(cè)試、染料敏化太陽(yáng)電池測(cè)試、銅銦鎵硒太陽(yáng)電池測(cè)試、III-V族多元化合物太陽(yáng)電池測(cè)試、有機(jī)太陽(yáng)電池測(cè)試。現(xiàn)列舉太陽(yáng)能量子效率測(cè)試案例如下:

      1.晶體硅太陽(yáng)電池測(cè)試

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      晶體硅太陽(yáng)電池目前主要包括單晶硅、多晶硅電池,其特點(diǎn)是性能穩(wěn)定、市場(chǎng)化工藝成熟,常規(guī)樣品尺寸為125mm或156mm的方形電池片。目前QE系統(tǒng)用于工業(yè)化產(chǎn)品檢測(cè)的主要是針對(duì)此類(lèi)應(yīng)用,可通過(guò)內(nèi)外量子效率、反射率等參數(shù)分析電池片性能和均勻性,有助于成品效率提升。針對(duì)此類(lèi)應(yīng)用,選擇快速M(fèi)apping掃描功能,可以提供和分析快速mapping測(cè)試可以提供缺陷相關(guān)LBIC影像圖。晶體硅太陽(yáng)電池通常測(cè)試外量子效率、反射率、內(nèi)量子效率以及表面均勻性(mapping掃描)。

      樣品概述:

      晶體硅電池

      156mm*156mm

      測(cè)試條件:

      光譜范圍:300~1100nm

      測(cè)試光斑:Φ10mm

      調(diào)制頻率:170Hz

      時(shí)間常數(shù):100ms

      環(huán)境溫度:25±1℃

      Mapping測(cè)試條件

      室溫掃描步長(zhǎng)1mm 掃描時(shí)間5min

      測(cè)試波長(zhǎng)550nm。

      測(cè)量項(xiàng)目:

      光譜響應(yīng)度、外量子效率、反射率、內(nèi)量子效率、短路電流密度。

      全功能型太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)SCS100

      2.非晶硅薄膜太陽(yáng)電池測(cè)試

      非晶硅薄膜太陽(yáng)電池是目前市場(chǎng)上少數(shù)具有能力挑戰(zhàn)晶體硅電池主流地位的電池種類(lèi)。它的主要特點(diǎn)是成本低廉,非常有利于太陽(yáng)能的普及。

      非晶硅薄膜太陽(yáng)電池可以分為單結(jié)、雙結(jié)和三結(jié)等,每一個(gè)PN結(jié)都可以看做一個(gè)子電池。因此在測(cè)量時(shí)應(yīng)注意采用偏置光進(jìn)行配合才能得到正確的結(jié)果。

      非晶硅薄膜太陽(yáng)電池通常測(cè)量外量子效率,多結(jié)電池需要測(cè)每個(gè)PN結(jié)的量子效率和短路電流密度。

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      三結(jié)非晶硅薄膜太陽(yáng)電池結(jié)構(gòu)

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      非晶硅薄膜太陽(yáng)電池樣品實(shí)物圖

      樣品概述多結(jié)薄膜電池(非晶/微晶/微晶鍺硅)

      100mm*100mm

      測(cè)試條件:光譜范圍:300~1100nm

      測(cè)試光斑:Φ2.5mm

      調(diào)制頻率:180Hz

      時(shí)間常數(shù):300ms

      藍(lán)光、紅光偏置

      環(huán)境溫度:25±1℃

      測(cè)量項(xiàng)目:子電池的外量子效率、短路電流密度

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