近日，全球領先的測試測量廠商NI(National Instruments)宣布與上海孤波科技有限公司(簡稱孤波)、上海季豐電子股份有限公司(簡稱季豐電子)達成合作，三方將著眼于“季豐-NI芯片測試聯合實驗室”的構建，旨在推廣實驗室Bench測試的完整方案，為國內半導體設計公司提供Bench測試服務，包括實驗室機臺機時租賃，測試開發，儀器選型及采購等，并在業務渠道拓展及市場推廣等方面達成合作。

　　此項合作將是三方的強強合作，將利用季豐電子完整的測試開發能力，NI高性能硬件，及孤波靈活的軟件，為國內客戶提供一套自動化，定制化，高覆蓋率的測試平臺。它將為國內半導體設計公司提供Bench測試的多重便利，從芯片初始版本開始，保證芯片模擬驗證的充分性，有效性，避免多次改版，促進產品早日上市。

　　隨著集成電路產業進入快速發展的軌道，對芯片的綜合性能要求越來越高，實驗室階段測試及可靠性分析作為芯片上市前的關鍵一環，受到越來越多IC設計公司的關注。季豐電子專注于解決客戶的從0到1的新品認證完整方案提供，對于芯片設計公司提升質量，加速新品研發，降低運營成本，樹立品牌，增強核心競爭力有獨到的幫助，其核心技術能力與服務模式正在賦能更多的IC設計公司。同時，NI、孤波與季豐電子的深度合作，將強化季豐電子在芯片測試領域的能力，進一步拓展其商業版圖。

　　“我非常高興季豐與NI、孤波建立深度合作關系，相信借助NI先進的測試測量系統、孤波易用的軟件平臺以及季豐電子在芯片測試領域長久的積累，三方將實現合作共贏。”上海季豐電子股份有限公司工程副總經理倪衛華表示：“聯合實驗室將專注于高端芯片測試服務，在首批合作中，三方將圍繞射頻芯片、混合信號芯片實驗室測試方向展開合作。在芯片測試業務拓展及市場推廣合作內容上，季豐電子充分發揮技術、渠道及服務優勢，積極挖掘測試服務業務。此外，三方還將挖掘中國各地公共測試實驗室合作需求。”

　　上海孤波科技有限公司總經理周浩表示：“孤波打造基于LabVIEW和C#的易用的軟件平臺SIVA，結合NI模塊化硬件解決方案，幫助中國設計公司在早期依托季豐一站式服務，加速新品開發降低運營成本。”

　　隨著芯片設計復雜度的增加，傳統的測試方法無法及時響應最新的測試需求。季豐電子作為專業的芯片測試服務提供商，為幫助客戶提高測試效率和節約測試成本，需要推進芯片實驗室階段測試標準化、流程高效化，這與NI提出的現代化芯片測試(Modern Lab)方法非常契合。

　　NI 全球半導體業務拓展總監何為表示：“三方的合作將重點關注實驗室bench測試階段，NI將輔助季豐電子建立獨立完成測試方案制定、平臺搭建、測試軟件部署、測試設備集成的能力，在此過程中，NI將ModernLab的理念融入其中，幫助季豐電子建立這套標準化的測試流程，從而更高地為中國IC設計公司服務，尤其是沒有能力構建自己實驗室的客戶將大大受益。”