在YieldManager中引入功能增強的位圖模塊后,它現在可以提供更加完備的缺陷位圖分析。YieldManager收集和存儲來自不同的測試裝置、對各種參數進行測量后得到的更大量和更加豐富的位圖數據集。它擁有一個新的更加強大的圖形用戶界面,配備了很多新的分析和繪圖功能,包括把從多個芯片得到的位圖進行堆疊的堆疊密度圖,以及按照頻率進行彩色編碼的行失效與列失效。這些應用和新增加的位圖分析功能使得辨識失效位模式,把不重要的缺陷和瑕疵與“致命的”缺陷區分開來,以及查明致命缺陷的原因,從而達到提高出片良率等一系列的工作都更加容易了。

“YieldManager節省工程時間,它通過加速對失效根本原因的分析以及消除在晶圓廠內運行多個客戶機-服務器應用軟件的必要性,可集中使用資源,” 微捷碼公司Fab分析業務部副總裁Ankush Oberai說道。“利用YieldManager新的位圖缺陷分析能力,用戶可以執行更精確的分析和進一步提高生產力。”