半導(dǎo)體測試公司惠瑞捷日前宣布,日本沖電氣工業(yè)株式會社OKI已選用惠瑞捷Port Scale射頻測試解決方案以測試其高集成度無線通信芯片。OKI的芯片目前已被消費電子制造商廣泛地應(yīng)用于各種終端產(chǎn)品的制造當(dāng)中,其中包括:機頂盒,手機,掌上電腦和其它無線產(chǎn)品等等。OKI亦利用其在封裝技術(shù)方面的優(yōu)勢向其它制造商提供封裝與測試服務(wù),而Port Scale射頻測試方案將為OKI的測試服務(wù)業(yè)務(wù)進一步提供更多價值。惠瑞捷Port Scale射頻測試解決方案憑借其獨到的性能、具有優(yōu)勢的測試成本、v93000平臺的可靠性和可擴展性以及遍布全球的高質(zhì)量應(yīng)用測試服務(wù)支持最終獲得OKI的青睞,在眾多候選方案中脫穎而出。

OKI是第一批采用惠瑞捷Port Scale射頻測試解決方案的公司之一,惠瑞捷的Port Scale射頻測試解決方案的推出符合市場迅速增長的需求。目前十大射頻半導(dǎo)體供應(yīng)商中有八家正以Port Scale射頻方案開發(fā)并超過25種各類產(chǎn)品,準(zhǔn)備在未來數(shù)月內(nèi)投入量產(chǎn)。這些芯片包括含當(dāng)今最具有挑戰(zhàn)性的3G和4G技術(shù),如UWB和WiMAX技術(shù),藍(lán)牙,GPS導(dǎo)航以及ZigBee等。

“為了繼續(xù)向我們的客戶提供最佳質(zhì)量的芯片以幫助他們滿足當(dāng)今復(fù)雜高速無線通信的應(yīng)用需求,我們需要一個可靠性高,測試成本更低且能有效加快量產(chǎn)化速度的測試解決方案。” OKI株式會社ATP制造部門總經(jīng)理Katsumi Onaru先生表示:“Port Scale 射頻測試解決方案很好地為滿足了我們對于性能,成本和支持的要求,令我們在這些領(lǐng)域都能夠從容應(yīng)付挑戰(zhàn)。v93000平臺固有的靈活性意味著它同樣能滿足我們的客戶對于未來下一代設(shè)備的需求”。

“憑借Port Scale射頻測試解決方案,惠瑞捷已經(jīng)率先帶來了業(yè)內(nèi)第一套整合探頭的多端口測試方案,以此為高集成度射頻設(shè)備提供高性價比的測試。”。惠瑞捷半導(dǎo)體科技公司業(yè)務(wù)與服務(wù)支持副總裁Pascal Ronde指出:“我們很高興OKI選用了已被許多其它公司采用并一致認(rèn)可的Port Scale 射頻測試解決方案,在這些公司的共同推動之下,Port Scale將能迅速成為測試包括最新的3G和4G技術(shù)在內(nèi)的全范圍復(fù)雜射頻系統(tǒng)芯片和射頻系統(tǒng)級封裝的新標(biāo)準(zhǔn)。”

關(guān)于惠瑞捷Port Scale 射頻測試解決方案

基于v93000 soc測試平臺的Port Scale射頻測試解決方案提供了經(jīng)濟,有效且可靠的射頻測量能力,這一全能型測量平臺能夠?qū)τ趦?nèi)含整合射頻、混合信號、數(shù)字、電源管理、以及嵌入式或堆疊式內(nèi)存的各類最新的高集成度芯片實施測量。而Port Scale射頻解決方案是目前唯一能夠滿足3G,4G以及高集成度射頻設(shè)備對于高容量、多點并行測試要求的方案,同時也是這些產(chǎn)品進行量產(chǎn)可行性測試必不可少的平臺。

解決方案包括:

——具有領(lǐng)先的高效率的多點并行測試能力的高產(chǎn)量射頻測量儀器

——業(yè)已證實的性能,可重復(fù)性和穩(wěn)定性,所有這些均能改善芯片成品率和測試質(zhì)量

——可擴展,并行測試