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引言

Knowles公司Syfer品牌的電容應(yīng)用溫度區(qū)間為-55℃到+150℃，如下表所示：

一些汽車電子或工業(yè)應(yīng)用常常會(huì)提出嚴(yán)格的溫度需求，特別是高達(dá)200℃的應(yīng)用。普通產(chǎn)品可能不適合額定125℃以上的應(yīng)用，但Knowles/Syfer經(jīng)過(guò)在其制造工廠進(jìn)行的廣泛測(cè)試，可向用戶推薦適用于更高溫下應(yīng)用的電容。然而需要注意的是，基于C0G，X5R，X7R，或X8R電介質(zhì)的電容，盡管可在200℃的高溫下應(yīng)用，但其性能可能會(huì)有一定的衰減。

背景

多層陶瓷電容的可靠性與工作電壓以及工作溫度直接相關(guān)。隨著溫度上升，加速因子（Acceleration Factor 一項(xiàng)體現(xiàn)可靠性的反向指標(biāo)）的升高將非常顯著 （如下圖所示）：

單單熱應(yīng)力即可導(dǎo)致電氣失效。當(dāng)介質(zhì)產(chǎn)生熱量的速度高于其所能發(fā)散的速度時(shí)就會(huì)發(fā)生熱擊穿。這會(huì)提高介質(zhì)的導(dǎo)電性，產(chǎn)生更多熱量，最終導(dǎo)致電容性能的不穩(wěn)定，通常表現(xiàn)為溫度的急劇上升。電容通過(guò)局部放電時(shí)所產(chǎn)生熱量，可能足以熔化電介質(zhì)材料。

用戶在決定某個(gè)電容是否適用于高溫環(huán)境時(shí)，需要考慮熱應(yīng)力和溫度上升對(duì)容值、耗散因子和絕緣電阻等基礎(chǔ)電性能所產(chǎn)生的影響。

元件測(cè)試

Knowles/Syfer針對(duì)采用各種電介質(zhì)材料制造的電容都進(jìn)行了廣泛的測(cè)試，包括高達(dá)200℃高溫下電容的可靠性測(cè)試，具體數(shù)據(jù)可以參考下面的典型測(cè)試曲線。

高溫下的基礎(chǔ)電性能

應(yīng)用推薦

由于電容的可靠性會(huì)受到熱應(yīng)力的不利影響，故不建議用戶在>125℃的環(huán)境溫度下應(yīng)用普通電容，但也存在例外：

A：溫度不超過(guò)160℃時(shí)，大多數(shù)的普通電容性能可靠，但Knowles/Syfer建議用戶選取額定電壓大于或等于應(yīng)用中的實(shí)際電壓30%的電容。

例如，如果應(yīng)用中需要用到0805 50V 10nF的電容，則Knowles/Syfer的建議是實(shí)際選用0805 100V 10nF的電容來(lái)替代，而0805 63V 10nF的電容則不可取，因其電壓提升僅為26%。

B：溫度高于160℃時(shí)，Knowles/Syfer的測(cè)試數(shù)據(jù)顯示，電容的可靠性呈幾何級(jí)數(shù)變化，類似于上文所示熱應(yīng)力變化圖表。這就使得我們很難制定一套簡(jiǎn)單的規(guī)則來(lái)指導(dǎo)用戶針對(duì)160℃到200℃區(qū)間范圍內(nèi)的應(yīng)用選取適當(dāng)?shù)碾娙荨?br>
因此，針對(duì)160℃以上應(yīng)用的電容選取，Knowles/Syfer建議用戶就應(yīng)用的具體細(xì)節(jié)向我們的技術(shù)團(tuán)隊(duì)咨詢，我們會(huì)推薦最適用的元件。這樣可以確保用戶獲取的是最可靠同時(shí)最經(jīng)濟(jì)的應(yīng)用解決方案。

例如：某項(xiàng)170℃下的應(yīng)用需要用到1206尺寸的電容，但是當(dāng)容值和工作電壓要求不變，而溫度上升到200℃時(shí)，我們就需要換用1812尺寸的電容來(lái)確保可靠性。