隨著電子信息產(chǎn)業(yè)的飛速發(fā)展，基礎(chǔ)測試儀器被廣泛應(yīng)用在電子行業(yè)的各個(gè)領(lǐng)域。對基礎(chǔ)測量儀器的巨大需求推動(dòng)了測試測量行業(yè)的迅猛發(fā)展，各式產(chǎn)品層出不窮，新技術(shù)不斷涌現(xiàn)。
測試關(guān)乎產(chǎn)品的性能、品質(zhì)，同時(shí)還起著監(jiān)控產(chǎn)品制程的作用。隨著IC內(nèi)集成越來越多的性能以及芯片間采用更高速總線來快速傳輸數(shù)據(jù)，將有更多設(shè)計(jì)測試概念被整合到產(chǎn)品測試流程里，關(guān)鍵技術(shù)正在走向集成。而為了滿足層出不窮的新技術(shù)，還需確保測試平臺(tái)是可擴(kuò)展和靈活的。這些都對測試測量廠商提出了更高的要求。
電子工程師在平時(shí)進(jìn)行電子設(shè)計(jì)中離不開測試測量所用的儀器儀表。
萊特波特IQxel多功能測試儀
IQxel是Litepoint推出的全球第一款支持802.11ac標(biāo)準(zhǔn)的單機(jī)測試儀（OBT），在這款測試儀中同時(shí)全面了覆蓋WLAN（802.11a/b/g/n/ac）與藍(lán)牙（1.0-4.0）多無線標(biāo)準(zhǔn)的物理層測試。可輕松部署以滿足大批量設(shè)備生產(chǎn)所需的嚴(yán)格的和自動(dòng)化測試要求。
IQxel采用高精度的設(shè)計(jì)，支持802.11ac測試所需的所有高信道帶寬（80與160MHz）組合，以及嚴(yán)格的矢量誤差幅度(EVM)要求。IQxel具備雙DUTRF測試能力，可提供兩路完全校準(zhǔn)的RF連接，不需外接可能降低制造精確度并導(dǎo)致可靠度問題的外接RF組件，從而簡化多部設(shè)備的制造測試，達(dá)到最高的測量精確度。IQxel160MHz版本可用于測試兩部80MHz帶寬設(shè)備，將測試站的測試量提高一倍，進(jìn)一步節(jié)省運(yùn)作成本。
IQxel采用采用彈性架構(gòu)設(shè)計(jì)，可輕松擴(kuò)展以支持真正MIMO測試。采用精簡的2U架高底架，不需外部PC處理數(shù)據(jù)，使用標(biāo)準(zhǔn)的Gigabit以太網(wǎng)接口，提供獨(dú)立網(wǎng)絡(luò)圖形用戶接口及與SCPI兼容的控制指令，能提供最迅速、簡便的出廠測試功能。
簡便易用的軟件程序庫，用戶可輕松完成系統(tǒng)轉(zhuǎn)移，測試全新的802.11ac裝置，之前的802.11a/g/g/n測試程序也能在IQxel上執(zhí)行，而無須重新開發(fā)軟件。
福祿克Ti125紅外熱像儀
福祿克Ti125熱像儀在易于使用方面，進(jìn)行了突破性的創(chuàng)新。無論是對焦、成像、現(xiàn)場操作、還是分析報(bào)告，都能輕松應(yīng)對。主要有六大創(chuàng)新功能：
-ROptifleTM手自一體對焦系統(tǒng)——對焦更輕松
可選擇自動(dòng)對焦或手動(dòng)對焦拍攝近距離目標(biāo)，IR-OptifleTM能夠快速輕松獲得清晰銳利的圖像。Fluke創(chuàng)新性的手自一體對焦系統(tǒng)，結(jié)合了手動(dòng)與自動(dòng)對焦模式的優(yōu)勢，使對焦變得更輕松。僅用一根手指即可在定焦和手動(dòng)對焦之間輕松切換。
-IR-Fusion:紅外-可見光點(diǎn)對點(diǎn)融合技術(shù)——成像更輕松
行業(yè)內(nèi)獨(dú)有的IR-Fusion:專利技術(shù)的紅外熱像儀，將可見光圖像及紅外圖像完全融合成一個(gè)視圖。畫中畫模式下的融合功能可精確記錄問題區(qū)域，輕松定位問題點(diǎn)。
-堅(jiān)固可單手操作——操作更輕松
0.73kg的重量可讓您輕松握于掌中，即使戴著手套仍能使用拇指操作所有按鈕。輕巧的機(jī)身可讓您垂直或水平瞄準(zhǔn)目標(biāo)，長時(shí)間使用也不會(huì)感到疲勞。
-多模式視頻錄制——故障排查更輕松
可自動(dòng)對焦拍攝可見光和紅外視頻，隨時(shí)監(jiān)控流程，逐幀排除故障，并創(chuàng)建紅外視頻報(bào)告。單次最長錄制時(shí)間為5分鐘，方便客戶對動(dòng)態(tài)熱圖進(jìn)行連續(xù)觀測或分析。
-IRPhotoNotesTM圖片標(biāo)注系統(tǒng)——報(bào)告更輕松
易見熱像儀每個(gè)紅外光圖像最多可添加三張可見光照片，無需攜帶紙和筆，便可準(zhǔn)確記錄和標(biāo)注設(shè)備型號(hào)、銘牌、潛在問題點(diǎn)。
-電子羅盤——報(bào)告更輕松
可在拍攝的同時(shí)，辨別并顯示目標(biāo)物所在方位，8個(gè)基點(diǎn)的羅盤讀數(shù)可輕松幫助用戶和他人了解故障區(qū)域的方向和位置，尤其是在大范圍的檢測地點(diǎn)或建筑檢測環(huán)境的情況下，這一點(diǎn)尤為重要。
另外，F(xiàn)luke獨(dú)有的SmartView專業(yè)紅外分析軟件，具有先進(jìn)的分析功能，快速報(bào)告和可自定義報(bào)告，使用簡單、無許可證限制，終身免費(fèi)升級(jí)。
MentorGraphicsT3Ster熱阻測試儀
瞬態(tài)測試臺(tái)以及多個(gè)配件(恒溫器，功率放大器，熱電偶信號(hào)前端放大器，JEDEC標(biāo)準(zhǔn)的測試溫箱，測試板以及特殊設(shè)備：測試TIM以及PWB需要用到的設(shè)備，等)。
針對LED照明行業(yè)，它配置TERALED系統(tǒng)，通過溫度和電流函數(shù)，自動(dòng)測試功率LED的熱特性和光特性。T3Ster的先進(jìn)技術(shù)變革了工程師處理熱測試問題的方法：
1.啟動(dòng)測試延遲時(shí)間1微秒（市場上其他產(chǎn)品延遲時(shí)間為1毫秒）
2.測試周期短，以“秒、分鐘”為單位（市場上其他產(chǎn)品以天為單位）
3.采樣點(diǎn)高達(dá)65000個(gè)，測試可重復(fù)性好
4.高信噪比，SNR>4000,FoM=10000W/℃
5.結(jié)溫測試精度：0.01℃
測試結(jié)果可用于芯片以及TIMs的熱失效分析。T3Ster測得的功率封裝元器件的動(dòng)態(tài)熱模型可導(dǎo)入到CFD工具中運(yùn)行仿真分析，也適用于電路模擬器分析。
安捷倫N6781A數(shù)字源表模塊
“有兩件事情制約了無線通信行業(yè)的發(fā)展：帶寬和電池壽命”。這是Palm公司CEOJonRubinstein的名言。我們每個(gè)人手中的智能手機(jī)，其強(qiáng)大的功能已經(jīng)超越了幾年前的電腦。但目前的電池技術(shù)，卻遠(yuǎn)落后于手機(jī)性能的提高。因此，無論是對于手機(jī)芯片、零部件還是整機(jī)的研發(fā)，都會(huì)將耗電性能作為優(yōu)先考慮的事情。精確測量和評(píng)估手機(jī)及芯片的耗電特性，成為眾多研發(fā)工程師迫切需要完成的工作。
手機(jī)的耗電特性非常特殊，其工作電流范圍涵蓋從微安級(jí)的關(guān)機(jī)漏電流，到安培級(jí)的瞬間發(fā)射電流，電流脈沖變化在微秒級(jí)，而變化頻率也會(huì)達(dá)到數(shù)千赫茲。所以市場上常用的測試設(shè)備，諸如示波器、萬用表、高分辨率數(shù)字化儀等，由于分辨率或測試速度的限制，無法完成這項(xiàng)頗具挑戰(zhàn)的測試任務(wù)。
安捷倫公司的系統(tǒng)產(chǎn)品事業(yè)部開創(chuàng)一項(xiàng)全新技術(shù)突破了這個(gè)難關(guān)。在最新推出的N6871ASMU模塊中，采用了“無縫量程切換”的獨(dú)特技術(shù)，它能在給手機(jī)或芯片供電的同時(shí)，對電流實(shí)行從納安級(jí)到安培級(jí)連續(xù)、無縫隙的高速測量，等效分辨率高達(dá)28bit、200KHz/秒采樣率、512K點(diǎn)的存儲(chǔ)深度，保證了對手機(jī)及芯片耗電的精確捕獲和分析。這就如同用一個(gè)超高分辨率的高速攝像機(jī)，跟蹤拍攝飛奔的雄獅，一旦定格在任意一幀圖像，即使將其放大1萬倍，圖像仍然毫發(fā)畢現(xiàn)
